Описание:

Leica EM RES 102 - автоматическая управляемая компьютером система ионного травления, чистки и модификации поверхности неорганических материалов с изменяемой ориентацией направления ионных пучков предназначена для приготовления неорганических образцов для ПЭМ и СЭМ и световой микроскопии.

• Две ионные пушки с энергией (1 – 10 keV)  и углом наклона +/- 45 град.
• Подготовка образцов до 25 мм диаметром.
• Низкоэнергетическая чистка образцов FIB.
• Позволяет изменять ориентацию ионных пучков с углом от 0 до 90° и их энергию.
• Образец отображается в течении всего времени процесса посредством встроенной CCD камеры.
• Опциональная LN2 система охлаждения позволяет осуществлять подготовку образцов без артефактов.