Описание:

Система позволяет проводить улучшенный неразрушающий элементный анализ для широкого круга образцов с  минимальной подготовкой проб для анализа, не требующий покрытия для снятия заряда. Микроанализатор с дисперсией по энергии Orbis объединяет, быстро и одновременно регистрирует и определяет все элементы с содержанием от ppm до 100%.

Пользователи могут проводить элементный анализ на образцах малого размера, таких как частицы, отдельные детали и включения, или автоматический многоточечный анализ больших образцов со всеми преимуществами и простотой рентгенофлуоресцентого анализатора.

С помощью этих настольных приборов можно определять элементы от Na до Bk в низком вакууме или на воздухе. С проникающей способностью рентгеновских лучей и большим диаметром первичного пучка анализаторы Orbis более подходят для анализа образцов большего размера, чем растровые электронные микроскопы. Эффективные детекторы EDAX и легкие в использовании программы Vision обеспечивают точный элементный анализ.

Инновационная рентгеновская оптика/видео геометрия

Монтаж рентгеновской оптики и высокого качества видео камеры Orbis перпендикулярно образцу делает прибор подходящим для широкого круга геометрии образцов. Этот инновационный дизайн обеспечивает возможность по истине «что вы видите то, и анализируете». Блокировку рентгеновского пучка, которая приводит к ошибочным измерениям, можно легко обнаружить. Если изображение камеры искажено, то и рентгеновский пучок блокируется. При измерении образцов с рельефом экранировка рентгеновского пучка устраняется. Кроме того качественный анализ выполняется легко и за пределами разработанного рабочего отрезка прибора.

Широкая область применений

Анализаторы Orbis идеальны для различных приложений, включая судебную экспертизу, промышленный контроль качества и неразрушающий контроль различных материалов, электроники и анализ геологических образцов.

Модели анализаторов Edax

Энергодисперсионный микроанализатор Orbis доступен в двух стандартных моделях: Orbis SDD и Orbis PC SDD. EDAX предлагает широкий спектр дополнительных возможностей для каждой модели. Эти две модели охватывают широкий спектр применения, когда требуется высокоточный неразрушающий элементный анализ. Программное обеспечение Orbis Vision доступно на обеих моделей.

Программное обеспечение Orbis Vision

Программное обеспечение Orbis Vision предоставляет пользователю удобный в работе интерфейс, позволяя управления приложениями, требующими более мощных аналитических приборов. Возможность перемещения образца позволяет анализировать отдельные точки, сохраняя множество положений образца для автоматического анализа и импорта изображений образца от других приборов, чтобы установить соотношение анализ между Orbis и другими микроаналитическими приборами.

• Программное обеспечение для количественного анализа включает запатентованный фирмой EDAX Метод фундаментальных параметров со стандартами или без них
• Анализ следовых элементов в легкой матрице с использованием метода фундаментальных параметров Например, элементы, запрещенные директивой ROHS, в в пластмассах
• Полное программное обеспечение калибровки, используя методологию Lucas-Tooth и Pyne
• Особенностью программного обеспечения Vision является наличие активной программы сохранения, которая позволяет более продвинутому пользователю сохранить параметры, необходимые для повторного использования другими операторами.

Дополнительные пакеты программ к доступным с Orbis Vision включают:

• Spectral Mapping (Спектральный мэппинг): распределение элементов с регистрацией полного спектра
• Image Processing (Обработка изображения): включает регистрацию спектра, изображение и масштабирование для выделения низкой интенсивности в области возбуждения
• LineScan (линейное сканирование): области измерения при линейном сканировании отмечаются на видео изображении
• Alloy ID (Идентификация сплава): позволяет идентифицировать элементы, входящих в состав образцов
• Coating Analysis (Анализ покрытий): определяет толщину и состав соответствующих слоистых структур, используя метод анализа без стандартов, использующий фундаментальные параметры
• Spectral Matching (сравнение спектров): для идентификации материала сравнивает неизвестный спектр со спектрами созданной пользователями базой