Особенности

• Возможность измерений в одной, двух и трех плоскостях;
• Функция неразрушающего контроля толщины пленки (1D) с измерением проникающего отражения;
• Возможность выполнения двумерных измерений дефектов с помощью сканирующей камеры высокого разрешения для проверки наличия пузырьков, царапин и посторонних предметов;
• Интерферометрия белого света для измерения 3D-профиля;
• Система оснащена электрическим механизмом смены объективов с программным управлением;
• Алгоритм фиксации проблем темных точек и граничных ошибок;
• Модульная конструкция позволяет собрать систему в соответствии с измерительными потребностями и планируемым бюджетом;
• Диапазон измерений составляет 700 мм x 900 мм (меньший размер доступен по запросу);
• Функция трехмерного измерения поверхностей обеспечивает оценку множества параметров, таких как высота ступени, внутренний угол, площадь, размер, толщина, неровность, толщина пленки и степень гладкости;
• Станина с вакуумным всасывающим приспособлением;
• Удобный интерфейс с простой графической системой управления и отображением 3D-моделей;
• Функция быстрой автоматической самокалибровки;
• Возможность автоматических измерений по заданному сценарию;
• Интерфейс на английском и китайском языках.

Описание

Chroma 7505-01 является новейшей многофункциональной системой оптического контроля с возможностью одновременных измерений в одной, двух и трех плоскостях. Для измерения толщины пленки прозрачного и полупрозрачного материала внедрена функция неразрушающего контроля (1D) с измерением проникающего отражения. При двумерных измерениях осуществляется горизонтальное сканирование с использованием камеры линейного сканирования высокого разрешения и платформы с компьютерным управлением с диапазоном измерений до 700 мм x 900 мм. Кроме того, станина обладает вакуумным всасывающим механизмом для формирования ровной плоскости дисплеев, таких как сенсорные панели, электронная бумага и AMOLED дисплеи. Система может применяться для измерений на микро и нано уровнях, равно как и при крупномасштабных измерениях. Измерение 2D дефектов позволяет выявлять пузырьки, царапины и посторонние предметы. Функция 3D-измерений позволяет анализировать высоту и глубину 2D дефектов, что не было доступно ранее при традиционном двумерном контроле.